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微型電(diàn)子計算機

1.範圍

本标準規定了微型電(diàn)子計算機的技(jì )術要求、試驗方法、檢驗規則和标志(zhì)、包裝(zhuāng)、運輸、貯存。

本标準适用(yòng)于寶德(dé)計算機系統股份有(yǒu)限公(gōng)司生産(chǎn)的微型電(diàn)子計算機,家用(yòng)、商(shāng)用(yòng)、軍用(yòng)及類似用(yòng)途的微型電(diàn)子計算機(以下簡稱PL Server)。


2. 規範性引用(yòng)文(wén)件

下列文(wén)件中(zhōng)的條款通過本标準的引用(yòng)而成為(wèi)本标準的條款。凡是注明日期的引用(yòng)文(wén)件,其随後所有(yǒu)的修改單(不包括勘誤的内容)或修訂版均不适用(yòng)于本标準,然而,鼓勵根據本标準達成協議的各方研究是否可(kě)使用(yòng)這些文(wén)件的最新(xīn)版本。凡是不注明日期的引用(yòng)文(wén)件,其最新(xīn)版本适用(yòng)于本标準。

GB/T191-2008    包裝(zhuāng)儲運圖示标志(zhì)

GB/T 2828.1-2012   計數抽樣檢驗程序 第1部分(fēn):按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃

GB/T 4857.2-2005   包裝(zhuāng)、運輸包裝(zhuāng)件基本試驗 第2部分(fēn):溫濕度調節處理(lǐ)

GB/T 4857.5-1992   包裝(zhuāng)、運輸包裝(zhuāng)件 跌落試驗方法

GB 4943.1-2011   信息技(jì )術設備 安(ān)全 第1部分(fēn):通用(yòng)要求

GB/T 6882-2008   聲學(xué) 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精(jīng)密法

GB 9254-2008   信息技(jì )術設備的無線(xiàn)電(diàn)騷擾限值和測量方法

GB 17625.1-2012    電(diàn)磁兼容 限值 諧波電(diàn)流發射限值(設備每相輸入電(diàn)流≤16A)

GB/T 9813-2000   微型計算機通用(yòng)規範


3. 主要技(jì )術性能(néng):

3.1功能(néng)

PL Server采用(yòng)集成總線(xiàn)結構,能(néng)正常運行DOS、Windows及LINUX等操作(zuò)系統及以其作(zuò)為(wèi)平台的應用(yòng)軟件。通過集成的網絡适配器或調制解調器等附件,能(néng)夠訪問局域網或Internet。PL Server适合于家用(yòng)、商(shāng)用(yòng)、軍用(yòng)及類似用(yòng)途。


3.2使用(yòng)條件:

儲存溫度:-40℃~55℃

工(gōng)作(zuò)溫度:10℃~35℃

相對濕度:5%~95%

大氣壓力:86kPa~106kPa

電(diàn)源電(diàn)壓:100-240VAC

電(diàn)源頻率:50Hz/60Hz


3.3配置:

中(zhōng)央處理(lǐ)器: 使用(yòng)Intel XEON 5000以上級别産(chǎn)品,運行頻率不低于1.60GHz

主闆     : 包括輸入輸出控制器和外圍設備控制器,使用(yòng)C600,C200芯片以上級别産(chǎn)品

顯示卡   : 主闆自帶ATI ES1000芯片、8M顯存以上級别産(chǎn)品

内存     :DDR3 2GB及以上

硬盤     :16GB及以上

光驅     :40倍速及以上

顯示器   :15英寸及以上

機箱     :ATX/SSI結構

電(diàn)源     :ATX/SSI結構

鍵盤     :PS/2接口或USB接口

鼠标     :PS/2接口或USB接口

RAID卡  :SAS 6Gb卡及後續産(chǎn)品


4. 技(jì )術要求

4.1外觀和結構要求

4.1.1産(chǎn)品表面不應有(yǒu)明顯的凹痕、劃傷、裂縫、變形和污染等。表面塗鍍層應均勻,不應起泡、龜裂、脫落和磨損。金屬零部件不應有(yǒu)鏽蝕及其它機械損傷。

4.1.2産(chǎn)品的零部件應緊固無松動,鍵盤、開關、按鈕和其它控制部件的控制應靈活可(kě)靠。


4.2安(ān)全

PL SERVER的安(ān)全要求應符合GB4943.1-2011的規定


4.3噪聲

PL SERVER工(gōng)作(zuò)時,距其1m處噪聲不得高于60dB。

PL SERVER工(gōng)作(zuò)時,距其1m處2個風扇的噪聲不得高于60dB。

PL SERVER工(gōng)作(zuò)時,距其1m處3個風扇的噪聲不得高于75dB。

PL SERVER工(gōng)作(zuò)時,距其1m處4個風扇的噪聲不得高于85dB。

PL SERVER工(gōng)作(zuò)時,距其1m處6個風扇的噪聲不得高于90dB。


4.4電(diàn)磁兼容性

4.4.1無線(xiàn)電(diàn)騷擾限值

産(chǎn)品的無線(xiàn)電(diàn)騷擾限值應符合GB9254-2008的要求,達到A級騷擾限值要求。測量條件參照GB9254-2008中(zhōng)第7章和第8章。

1)電(diàn)源端子騷擾電(diàn)壓限值

表1 A級ITE電(diàn)源端子傳導騷擾限值

頻率範圍/MHz

限值/dB(μV)

準峰值

平均值

0.15~0.50

79

66

0.50~30

73

60

注:在過渡頻率(0.50MHz)處采用(yòng)較低的限值


2)電(diàn)信端口的傳導共模騷擾限值

表2 A級電(diàn)信端口傳導共模(不對稱)騷擾限值

頻率範圍/MHz

電(diàn)壓限值/dB(μV)

電(diàn)流限值/dB(μV)

準峰值

平均值

準峰值

平均值

0.15~0.50

97~87

84~74

53~43

40~30

0.50~30

87

74

43

30

注1:在0.15MHz~0.5MHz頻率範圍内,限值随頻率的對數呈線(xiàn)性減小(xiǎo)。

注2:電(diàn)流和電(diàn)壓的騷擾限值是在使用(yòng)了規定阻抗的阻抗穩定網絡(ISN)條件下導出的,該阻抗穩定網絡對于受試的電(diàn)信端口呈現150Ω的共模(不對稱)阻抗(轉換因子為(wèi)20lg150=44dB)


3)1GHz以下的輻射騷擾限值

表3 A級ITE在測量距離R處(10m)的輻射騷擾限值

頻率範圍/MHz

準峰值限值/dB(μV)

30~230

40

230~1000

47

注1:在過渡頻率(230MHz)出采用(yòng)較低的限值

注2:當發生幹擾時,允許補充其他(tā)的規定


4)1GHz以上的輻射騷擾限值

表4 A級ITE在測量距離R處(3m)的輻射騷擾限值

頻率範圍/GHz

平均值/dB(μV/m)

峰值/dB(μV/m)

1~3

56

76

3~6

60

80

注:在過渡頻率(3GHz)處采用(yòng)較低的限值


4.4.2 抗擾度

   抗擾度限值應符合GB/T 17618的規定


4.5機械環境适應性

4.5.1振動适應性 見表3。

表3 振動适應性

試驗項目

試驗内容

條   件

初始和最後振動響應檢查

頻率範圍Hz

5~35

掃頻速度oct/min

≤1

驅動振幅峰值

0.15mm

定頻耐久試驗

驅動振幅峰值

0.15mm

持續時間min

10±0.5

掃頻耐久試驗

頻率範圍

5~35~5

驅動振幅峰值

0.15mm

掃頻速度oct/min

≤1

循環次數

2


4.5.2沖擊适應性 見表4。

表4

峰值加速度m/s2

脈沖持續時間ms

沖擊波形

150

11

半正弦波形


4.5.3碰撞适應性 見表5。

表5

峰值加速度m/s2

脈沖持續時間ms

碰撞次數

100

16

1000


4.5.4運輸包裝(zhuāng)件跌落适應性 見表6。

表6

包裝(zhuāng)件質(zhì)量kg

跌落高度mm

10~30

800

>30

600


4.6可(kě)靠性

采用(yòng)平均無故障工(gōng)作(zuò)時間(MTBF)衡量産(chǎn)品的可(kě)靠性水平。

PL SERVER的m1值(MTBF的不可(kě)接收值)不得低于4000h。


5. 試驗方法

5.1試驗環境條件

本标準中(zhōng)除氣候環境試驗、可(kě)靠性試驗和耐電(diàn)強度試驗以外,其它試驗在下述正常大氣條件下進行。

溫   度:10℃~35℃

相對濕度:5%~95%

大氣壓力:86kPa~106kPa


5.2外觀和結構檢查

用(yòng)目測法進行外觀和結構檢查,應符合4.1條的要求。


5.3性能(néng)檢查

按本标準中(zhōng)規定的各項技(jì )術性能(néng)逐項進行檢查,應符合本标準的要求。若通過運行檢查程序檢查産(chǎn)品的功能(néng),則應從頭至尾運行檢查程序一遍,檢查程序編制原則與技(jì )術要求見GB/T 9813-2000附錄A。


5.4安(ān)全試驗

5.4.1安(ān)全試驗

按GB4943.1-2011中(zhōng)的有(yǒu)關規定進行。

5.4.2對地洩漏電(diàn)流試驗

按GB4943.1-2011中(zhōng)5.2條規定進行。

5.4.3耐電(diàn)強度試驗

按GB4943.1-2011中(zhōng)5.3條規定進行,但在交收檢驗時,不進行預處理(lǐ)。


5.5電(diàn)源适應能(néng)力試驗

按GB/T 9813-2000中(zhōng)5.5條規定進行試驗。


5.6噪聲試驗

按GB/T 6882規定進行。測試點距離受試樣品各表面1m處,在打印機不工(gōng)作(zuò)、在軟盤和硬盤不尋道的條件下進行測試,取最大值。


5.7電(diàn)磁兼容性試驗

5.7.1 無線(xiàn)電(diàn)騷擾限值的測量方法

   按GB 9254規定的方法進行。試驗過程中(zhōng)運行檢查程序,工(gōng)作(zuò)應正常

5.7.2 抗擾度試驗

   抗擾度限值的測量方法按GB/T 17618規定的進行。試驗過程中(zhōng)運行檢查程序,工(gōng)作(zuò)應正常


5.8環境試驗

環境試驗方法按GB/T 9813-2000中(zhōng)5.8所規定的方法進行。


5.9可(kě)靠性試驗

可(kě)靠性試驗方法按GB/T 9813-2000中(zhōng)5.9所規定的方法進行。


6檢驗規則

6.1檢驗分(fēn)類

産(chǎn)品應通過下列檢驗:

a.定型檢驗;

b.交收檢驗;

c.例行檢驗。

各類檢驗項目和順序分(fēn)别按表7的規定。


表7

檢驗項目

技(jì )術要求

試驗方法

定型檢驗

交收檢驗

例行檢驗

外觀和結構

4.1

5.2

O

O

O

安(ān)全

4.2.1

5.4.1

O

對地洩漏電(diàn)流

4.2.2

5.4.2

O

O

O

耐電(diàn)強度

4.2.3

5.4.3

O

O

O

性能(néng)

3.3

5.3

O

O

O

電(diàn)源适應能(néng)力

3.2

5.5

O

O

噪聲

4.3

5.6

O

O

電(diàn)磁兼容

4.4

5.7

O

O

溫度下限

3.2

5.8

O

O

溫度上限

3.2

5.8

O

O

恒定濕熱

3.2

5.8

O

O

振動

4.5.1

5.8

O

O

沖擊

4.5.2

5.8

O

O

碰撞

4.5.3

5.8

O

O

運輸包裝(zhuāng)件跌落

4.5.4

5.8

O

O

可(kě)靠性鑒定

4.6

5.9

O

可(kě)靠性驗收

4.6

5.9

O

注:“O”表示應進行的檢驗項目。

“-”表示可(kě)以省略的檢驗項目。


6.2定型檢驗

6.2.1産(chǎn)品在設計定型和生産(chǎn)定型時均應通過定型檢驗.

6.2.2定型檢驗由質(zhì)量管理(lǐ)部負責進行。

6.2.3定型檢驗中(zhōng)的可(kě)靠性鑒定試驗的樣品數為(wèi)3,其餘檢驗項目的樣品數量為(wèi)2台。

6.2.4定型檢驗中(zhōng)的各檢驗項目故障的判定和計入方法見GB/T 9813-2000附錄B。除可(kě)靠性鑒定一項外,其餘項目均按以下規定進行。檢驗中(zhōng)出現故障或某項通不過時,應停止試驗,查明故障原因,提出故障分(fēn)析報告,重新(xīn)進行該項試驗。若在以後的試驗中(zhōng)再次出現故障或某項通不過時,在查明故障原因,排除故障,提出故障分(fēn)析報告後,應重新(xīn)進行定型檢驗。

6.2.5檢驗後要提交定型檢驗報告。


6.3交收檢驗

6.3.1批量生産(chǎn)或連續生産(chǎn)的産(chǎn)品,進行全數交收檢驗,檢驗中(zhōng),出現任一項不合格時,返修後重新(xīn)進行檢驗。若再次出現任一項不合格時,該台産(chǎn)品被判為(wèi)不合格産(chǎn)品。

首先檢查全部樣品的安(ān)全性,當發現一個緻命缺陷時,則判該批為(wèi)不合格批。

交收檢驗中(zhōng)性能(néng)檢查見表8,外觀結構檢查見表9。


表8

序号

檢查項目

缺陷内容

不合格分(fēn)類

A

B

C

1

CPU

1)CPU類型不符

2)實測外頻或倍頻與标稱值嚴重不符

3)一級緩存或二級緩存與标稱值嚴重不符

4)CPU架構不符或無多(duō)媒體(tǐ)指令MMX

O

O

O

O



2

主闆

1)缺少以下任一接口:

串口,并口,鍵盤,鼠标,軟驅,IDE,USB,CPU,Memory,

2)破損以下任一接口:

串口,并口,鍵盤,鼠标,軟驅,IDE,USB,CPU,Memory,

O

O






3

内存

1)容量不符

2)不能(néng)在100MHz或133MHz頻率下運行

3)100MHz或133MHz頻率下運行不穩定

4)表面有(yǒu)劃痕

O

O

O




O





4

軟驅

1)容量不符

2)不能(néng)讀、寫磁盤

3)聲音尖銳,或有(yǒu)共振聲

O

O



O




5

光驅

1)不能(néng)開關托盤

2)不能(néng)讀取有(yǒu)損傷的光盤

3)需較長(cháng)時間讀取光盤

O


O


O





6

硬盤

1)容量不符

2)以下任一參數不符:

柱面,磁頭,扇區(qū),緩存,傳輸模式,接口模式

O

O







7

顯示卡

1)顯示芯片不符

2)顯存大小(xiǎo)不符

O

O




8

聲卡

1)聲卡芯片不符

2)音量不能(néng)調節

3)雜音大


O


O



O




9



RAID卡

1)RAID卡芯片不符

2)RAID卡内存不符

3)RAID卡缺任一接口

O

O

O







10


HBA卡

1)HBA卡芯片不符

2)HBA卡接口不符

O

O





11


PCI轉接卡

1)PCI轉接卡芯片不符

2)PCI插槽不标準

O

O





注:“O” 表示應進行的檢驗項目


表9

序号

檢查項目

缺陷内容

不合格分(fēn)類

A

B

C

1

外觀結構

1)機殼嚴重開裂,變形,損傷,脫漆或鏽蝕

2)距機身50cm觀察,出現可(kě)見的劃傷,變形,脫漆,鏽蝕,毛刺≥10mm

3)表面輕微劃傷,變形,脫漆,鏽蝕,毛刺

4)接縫明顯不合或高低不平

5)接縫不合

6)安(ān)裝(zhuāng)松動或缺少螺絲釘

7)表面有(yǒu)污點≥1X1mm

8)表面有(yǒu)污點<1X1mm,并可(kě)擦除

9)銘牌,商(shāng)标錯誤或模糊不清

10)機殼和銘牌上均無生産(chǎn)廠名(míng)

O









O

O


O



O


O

O







O


O



O



2

裝(zhuāng)飾與功能(néng)控制件

1)指示燈缺少

2)任一指示燈不能(néng)正常顯示

3)任一功能(néng)鍵,控制鈕,開關等活動部件失靈

4)上述活動件過松或過緊,明顯變形但未失效

5)上述活動件偶爾不起作(zuò)用(yòng)

6)任一插孔,插頭失效

7)任一插孔,插頭接觸不良

O


O



O



O


O



O





O




6.3.2抽樣方案

以同一生産(chǎn)條件,一個生産(chǎn)班(4小(xiǎo)時)的同型号産(chǎn)品為(wèi)為(wèi)一個檢驗批,批量不宜超過300台,超出部分(fēn)劃為(wèi)另一檢驗批。同型号指所有(yǒu)配置均相同的POWERLEADER SERVER。

按GB/T 2828.1有(yǒu)關方法進行,各檢驗項目的合格質(zhì)量水平(AQL),檢查水平,抽樣方式見表10。


表10(本表不含安(ān)檢測内容)

序号

檢查項目

合格質(zhì)量水平(AQL)

檢查水平

抽樣方式

A類不合格品

B類不合格品

C類不合格品

1

性能(néng)檢查

0.65

1.5

6.5

一般檢查水平II

正常檢查一次抽樣

2

外觀結構檢   查

1.5

6.5

-

一般檢查水平II


6.3.3交收檢驗由質(zhì)量管理(lǐ)部負責進行。


6.4例行檢驗

6.4.1連續生産(chǎn)的産(chǎn)品,每年至少進行一次例行檢驗。

6.4.2連續生産(chǎn)的産(chǎn)品若間隔時間大于三個月,恢複生産(chǎn)時應進行例行試驗。

6.4.3當産(chǎn)品主要的設計,工(gōng)藝及原材料改變時,應對更改項目内容做相應的試驗。

6.4.4安(ān)全性試驗樣品為(wèi)2台。

6.4.5可(kě)靠性試驗樣品為(wèi)3台。

6.4.6例行檢驗由質(zhì)量管理(lǐ)部負責。根據訂貨方的要求,可(kě)提供産(chǎn)品近期的例行檢驗報告。

6.4.7例行檢驗樣品應在交收檢驗合格産(chǎn)品中(zhōng)随機抽取,其中(zhōng)的可(kě)靠性驗收檢驗項目的樣品數按表8規定,其餘檢驗項目的試驗樣品數為(wèi)2台。

6.4.8例行檢驗中(zhōng)檢驗項目的故障判定和計入方法見GB9813-2000附錄B。除可(kě)靠性驗收試驗外,其餘項目的故障處理(lǐ)按以下規定進行。檢驗中(zhōng)出現故障或任一項通不過時,應查明故障原因,提出故障分(fēn)析報告,經修複後應重新(xīn)做該項檢驗。之後,再順序做以下各項檢驗,如再次出現故障或某項通不過,在查明故障原因,提出故障分(fēn)析報告,再經修複後,則應重新(xīn)進行各項例行檢驗。在重新(xīn)進行檢驗中(zhōng)又(yòu)出現某一項通不過的情況時,則判該産(chǎn)品通不過例行檢驗。

經例行檢驗中(zhōng)的環境試驗的樣品,應印有(yǒu)标記,一般不作(zuò)為(wèi)正品出廠。

6.4.9檢驗後要提交例行檢驗報告。


7标志(zhì)、包裝(zhuāng)、運輸、貯存

7.1标志(zhì)

7.1.1PL SERVER上應标有(yǒu)制造廠名(míng)稱,商(shāng)标和産(chǎn)品型号。

7.1.2與電(diàn)網電(diàn)源直接連接處附近應标有(yǒu)電(diàn)源的性質(zhì),額定電(diàn)壓和頻率等。

7.1.3運輸包裝(zhuāng)箱上應有(yǒu)下列标志(zhì):

a.産(chǎn)品名(míng)稱、型号、生産(chǎn)廠的名(míng)稱和廠址;

b.出廠年、月、日;

c.包裝(zhuāng)質(zhì)量:kg;

d.包裝(zhuāng)件最大外部尺寸,長(cháng)寬高;

e.噴刷或貼有(yǒu)“小(xiǎo)心輕放”、“怕濕”、“向上”等運輸标志(zhì),運輸标志(zhì)應符合GB/T191-2008的規定。

f.執行标準号

包裝(zhuāng)箱外噴刷或粘貼的标志(zhì)不應因運輸條件和自然條件而退色、變色、脫落。

7.2包裝(zhuāng)箱應符合防潮、防塵、防震的要求,包裝(zhuāng)箱内應有(yǒu)裝(zhuāng)箱清單、檢驗合格證、保修卡及有(yǒu)關的随機文(wén)件。

7.3包裝(zhuāng)後的産(chǎn)品能(néng)以任何交通工(gōng)具(jù),運往任何地點。在長(cháng)途運輸時不得裝(zhuāng)在敞開的船艙和車(chē)廂,中(zhōng)途轉運時不得存放在露天倉庫中(zhōng)。在運輸過程中(zhōng)不允許和易燃、易爆、易腐蝕的物(wù)品同車(chē)(或其它運輸工(gōng)具(jù))裝(zhuāng)運,并且産(chǎn)品不允許經受雨、雪(xuě)或液體(tǐ)物(wù)質(zhì)的淋襲與機械損傷。

7.4産(chǎn)品貯存時應存放在原包裝(zhuāng)箱内,存放産(chǎn)品的倉庫環境溫度為(wèi)0~+40℃,相對濕度為(wèi)30%~95%。倉庫内不允許有(yǒu)各種有(yǒu)害氣體(tǐ)、易燃、易爆的産(chǎn)品及有(yǒu)腐蝕性的化學(xué)物(wù)品,并且應無強烈的機械振動、沖擊和強磁場作(zuò)用(yòng)。包裝(zhuāng)箱應墊離地面至少10cm,距離牆壁、熱源、冷源、窗口或空氣入口至少50cm。貯存期為(wèi)三個月。若在生産(chǎn)廠存放超過三個月,則應重新(xīn)進行交收檢驗。